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激光粒度分布儀是一種基于光散射原理的高精度顆粒分析儀器，通過測量顆粒對激光的散射特性，反推顆粒的粒徑分布，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、制藥、化工、環(huán)境監(jiān)測、食品加工等領(lǐng)域。其核心優(yōu)勢在于非接觸式測量、寬檢測范圍（0.01μm-3000μm）、快速分析（數(shù)秒至數(shù)分鐘）及高重復(fù)性，是顆粒表征的關(guān)鍵工具。激光粒度分布儀的工作原理基于米氏散射理論（MieTheory）和夫瑯禾費(fèi)衍射理論（FraunhoferDiffraction）。當(dāng)激光束照射樣品時，顆粒會散射光線，散射光的角度和強(qiáng)度與顆粒...

粉末衍射儀是一種基于X射線衍射原理的高精度分析儀器，主要用于晶體物質(zhì)的定性與定量分析、物相結(jié)構(gòu)研究及材料性能表征。其核心原理是利用X射線照射樣品時，晶體中規(guī)則排列的原子使X射線發(fā)生衍射，形成特定角度的衍射峰，通過分析這些峰的位置、強(qiáng)度及分布，可獲取晶體的晶格參數(shù)、晶胞對稱性、原子排列方式等關(guān)鍵信息。粉末衍射儀由X射線發(fā)生器、測角儀、探測器及控制系統(tǒng)組成。X射線發(fā)生器產(chǎn)生高穩(wěn)定性的X射線束，功率可達(dá)3kW，確保信號強(qiáng)度；測角儀采用θ/θ掃描或立式結(jié)構(gòu)，角度精度高達(dá)0.0001°...

2025年3月，鎵仁半導(dǎo)體發(fā)布全球首顆第四代半導(dǎo)體氧化鎵8英寸單晶，并加工出8英寸襯底，刷新了氧化鎵單晶尺寸的全球紀(jì)錄。中國氧化鎵率先進(jìn)入8英寸時代，率先突破8英寸技術(shù)壁壘，不僅標(biāo)志著中國在超寬禁帶半導(dǎo)體領(lǐng)域的技術(shù)進(jìn)步，更為氧化鎵產(chǎn)業(yè)在全球半導(dǎo)體競爭中搶占了先機(jī)。馬爾文帕納科專為半導(dǎo)體行業(yè)打造的高分辨X射線衍射儀——X'Pert3MRD(XL)，以其出色的分析能力和針對性的解決方案，備受全球化合物半導(dǎo)體制造商的認(rèn)可，為客戶的研發(fā)創(chuàng)新和產(chǎn)品質(zhì)量控制提供強(qiáng)有力的支持。多方檢測結(jié)果...

激光噴霧粒度儀是一種基于激光散射原理的高精度測量設(shè)備，專門用于分析噴霧、氣霧劑、粉霧劑等微小顆粒的尺寸分布及動態(tài)特性。其核心原理是當(dāng)激光束照射到噴霧顆粒時，顆粒會對入射光產(chǎn)生散射作用，散射光的強(qiáng)度及角度分布與顆粒粒徑直接相關(guān)——大顆粒散射光角度小、信號強(qiáng)，小顆粒則相反。通過測量散射光的角度分布與強(qiáng)度，并結(jié)合Mie理論或Fraunhofer衍射模型（適用于5μm顆粒），儀器可反算出顆粒的粒徑分布。該儀器具備顯著的技術(shù)優(yōu)勢：測量范圍廣，可覆蓋0.1μm至30000μm的粒徑，滿足...

納米粒度電位儀是一種集粒度分析與Zeta電位測量功能于一體的精密儀器，廣泛應(yīng)用于納米材料研發(fā)、制藥工業(yè)、生物大分子分析及環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域。其核心技術(shù)基于動態(tài)光散射（DLS）、電泳光散射（ELS）和靜態(tài)光散射（SLS）三種光散射原理，可實(shí)現(xiàn)納米顆粒粒徑分布、表面電荷特性及分子量的同步表征。動態(tài)光散射技術(shù)通過檢測顆粒布朗運(yùn)動引起的散射光強(qiáng)度波動，結(jié)合斯托克斯-愛因斯坦方程計(jì)算流體力學(xué)半徑，粒徑檢測范圍覆蓋0.3納米至10微米，分辨率達(dá)0.3納米。電泳光散射技術(shù)利用外加電場下顆粒的遷...